产品参数
产品详情
万分之一内校分析天平GC-C系列 仪器特点: 1.内置ARM32位微处理芯片,运行速度快、测量准确度高;
2.采用数字滤波和先进的数据处理技术,智能改善仪器响应速度和测量数据准确度。 3.采用先进的电磁传感器技术,传感器配件使用高精度数控加工中心加工,保证了传感器的精度及稳定性; 4.仪器采用密封式防风罩,外形美观,使用方便; 5.仪器含有计数、百分比、双精度,单位转换等多种功能,满足不同客户的需求,操作简单,准确度高等优点; 6.仪器电路板采用SMT贴片工艺,提高了产品的可靠性; 7.带白色背光的BTN 黑膜LCD液晶屏,显示清晰。 万分之一内校分析天平GC-C系列 仪器参数: 仪器型号:GC104C 称量范围(g):0-100 可读性(mg):0.1 仪器型号:GC124C 称量范围(g):0-120 可读性(mg):0.1 仪器型号:GC204C 称量范围(g):0-200 可读性(mg):0.1 仪器型号:GC224C 称量范围(g):0-220 可读性(mg):0.1
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